關(guān)于保護(hù)的選擇性，本信息有多篇文章，歡迎閱讀。

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一張圖看清楚保護(hù)選擇性；

保護(hù)選擇性的類型；

現(xiàn)實(shí)中常被忽視的保護(hù)選擇性；

斷路器區(qū)域選擇性聯(lián)鎖（ZSI）試驗(yàn)報(bào)告。

接上篇文章：一張圖看清楚保護(hù)選擇性，首先介紹熔斷器之間的保護(hù)選擇性，《低壓隔離電器和熔斷器選用和使用導(dǎo)則》T/CEEIA 301-2018、《全國(guó)民用建筑工程設(shè)計(jì)技術(shù)措施（電氣）》2009版等文獻(xiàn)有詳細(xì)要求。

本信息也介紹過(guò)熔斷器的類型，請(qǐng)參閱：重新認(rèn)識(shí)熔斷器！

• 符合GB/T13539.2-2015的相同類型的熔斷器（如gG），當(dāng)額定電流≥16A，通過(guò)確定其額定電流比為1.6:1或更高，則熔斷器滿足全選擇性要求，用戶不需進(jìn)行另外驗(yàn)證。

• 對(duì)于額定電流15A以上的gN或gD熔斷器，其額定電流比為2:1。

• 當(dāng)熔斷時(shí)間≥0.1s時(shí)，熔斷體之間的選擇性通過(guò)時(shí)間-電流特性進(jìn)行驗(yàn)證，如圖1所示。

• 當(dāng)熔斷時(shí)間＜0.1s時(shí)，熔斷體之間的選擇性通過(guò)弧前I²t和熔斷I²t值進(jìn)行驗(yàn)證。

需要說(shuō)明，熔斷器制造廠將提供在額定電壓下假定非常低的阻抗短路故障時(shí)的熔斷I²t值。實(shí)際使用中，在熔斷期間，由于故障時(shí)的阻抗及出現(xiàn)在熔斷器兩端的實(shí)際電壓，允通I²t值通常較低。

1、熔斷時(shí)間≥0.1s時(shí)選擇性驗(yàn)證

如圖1所示，對(duì)每個(gè)預(yù)期電流值，熔斷器F4的最大熔斷時(shí)間應(yīng)小于F2的最小弧前時(shí)間。

圖1 熔斷時(shí)間≥0.1s時(shí)，熔斷器F₂和F₄之間選擇性驗(yàn)證

圖中：1——最大熔斷時(shí)間；2——最小弧前時(shí)間。當(dāng)熔斷體特性僅以一根曲線表示時(shí)，制造廠應(yīng)規(guī)定誤差。

2) 熔斷時(shí)間＜0.1s時(shí)選擇性驗(yàn)證

對(duì)此熔斷時(shí)間，應(yīng)考慮I²t值。熔斷器F4的最大熔斷I²t值必須小于熔斷器F2的最小弧前I²t值。