ICS 17.180.99N 33備案號(hào): 34835- -2012JB中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T11145- -2011X射線熒光光譜儀X-ray fluorescence spectrometer2011-12-20發(fā)布2012-04-01實(shí)施中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部發(fā)布JB/T 11145- -2011目次前言.范圍.2規(guī)范性引用文件.....4要求4.2使用性能.....4.3技術(shù)指標(biāo).4.4安全 和防護(hù).4.5外觀質(zhì)量.5.1測(cè)試條件.5.試驗(yàn)使用的主要儀器、儀表6.2 光譜儀穩(wěn)定度(RR)的測(cè)試.儀器計(jì)數(shù)線性的測(cè)定.6.4探測(cè)器能量分辨率的測(cè)定.6.5散漏射線 空氣比釋動(dòng)能率測(cè)試..........................................56.6X射線管電壓及管電流穩(wěn)定度測(cè)試.6.7外觀質(zhì) 量檢驗(yàn).......7檢驗(yàn)規(guī)則.7.1出廠 產(chǎn)品檢驗(yàn).....7.2型式檢驗(yàn).8標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存.8.1標(biāo)志...............8.28.3運(yùn)輸和貯存.6JB/T 11145- -2011前言本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)委會(huì)(SAC/TC122) 歸口。.本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:遼寧儀表研究所。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:丹東射線儀器集團(tuán)股份有限公司、深圳市華測(cè)檢測(cè)有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:武太峰、王艷麗、崔萬(wàn)福、孫華山。本標(biāo)準(zhǔn)為首次發(fā)布。JB/T 11145- -2011X射線熒光光譜儀1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了x射線熒光光譜儀的術(shù)語(yǔ)和定義、技術(shù)條件、檢驗(yàn)規(guī)則、測(cè)試方法、標(biāo)志、包裝、貯存和運(yùn)輸?shù)纫?。X射線熒光光譜儀(以下簡(jiǎn)稱光譜儀)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于包括順序式和多通道同時(shí)式的波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀，元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)， 元素含量分析范圍10 4%~99.99%的光譜儀。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本( 包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T 191- -2008包裝 儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志( ISO 780:1997，MOD)GB/T 1184-1996形狀和位 置公差未注 公差值(eqv ISO 2768-2:1989)GB/T 13384機(jī)電產(chǎn) 品包裝通用技術(shù)條件JB/T 9329- -1999儀 器儀表運(yùn)輸、運(yùn)輸貯存基本環(huán)境條件及試驗(yàn)方法3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1綜合精度comprehensive precision是用同一樣品在盡可能一致的條件下多次測(cè)量結(jié)果的重現(xiàn)程度，測(cè)量結(jié)果以相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。相對(duì)偏差愈小，精度愈高。測(cè)量過(guò)程應(yīng)有各種部件運(yùn)動(dòng)，測(cè)試這些部件的到位精度即精度測(cè)試。3.2穩(wěn)定度stability儀器的穩(wěn)定度用相對(duì)極差RR表示，即測(cè)量過(guò)程中最大值與最小值的差與平均值之比。3.3探測(cè)器能量分辨率energy resolution of detector計(jì)數(shù)器輸出的脈沖的幅度分布與入射X射線能量對(duì)應(yīng)關(guān)系稱為能量分辨率。3.4儀器的計(jì)數(shù)線性instrument counting linearity在X射線源電壓一定時(shí)，改變電流，測(cè)量各點(diǎn)計(jì)數(shù)率，各種計(jì)數(shù)器在儀器允許最大計(jì)數(shù)率以內(nèi)的偏差值用CD表示。3.5高壓穩(wěn)定度high voltage stability用數(shù)字電壓表測(cè)量負(fù)載上的取樣電壓，計(jì)算其平均值和相對(duì)極差RR.4要求4.1 環(huán)境條件光譜儀應(yīng)在下列環(huán)境下正常工作:a)環(huán)境溫度為20'C士5°C;JB/T 11145- -2011b)相對(duì)濕度為30%~80%;c)電源電壓為220VX (1土10%);d)電源頻率為50Hz士1Hz;e)電源容量不低于整機(jī)額定功率的2倍;f)接地電阻不大于492;g)光譜儀供電線路中不應(yīng)有機(jī)床、電焊機(jī)、高頻電爐等設(shè)備引起的高頻和電弧干擾;h)如需冷卻水，水質(zhì)應(yīng)符合X射線管要求的標(biāo)準(zhǔn)，光譜儀周圍環(huán)境不應(yīng)有易燃和腐蝕性氣體，塵土及振動(dòng)。4.2使用性能光譜儀整機(jī)應(yīng)具有以下配置和功能:a)進(jìn)樣系統(tǒng)、分光系統(tǒng)和自動(dòng)控制管電壓、管電流升/降功能;b)設(shè)定光譜儀控制單元中的各項(xiàng)控制參數(shù);c)相應(yīng)的光譜儀控制、數(shù)據(jù)采集軟件;d)定量分析軟件和通用熒光數(shù)據(jù)處理軟件，有掃描通道時(shí)還應(yīng)具有元素自動(dòng)定性處理軟件;e)儀器校準(zhǔn)和故障診斷測(cè)試功能。4.3技術(shù)指標(biāo)4.3.1光譜儀精度以相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 RSD表示，要求RSD在平均累計(jì)計(jì)數(shù)不小于2X 10時(shí)的相對(duì)偏差，X射線管功率在1kW及以上的光譜儀精度值RSD不大于0.096%;X射線管功率在1kW以下的光譜儀精度值RSD不大于0.5%。4.3.2光譜儀穩(wěn)定 度的測(cè)試結(jié)果用相對(duì)極差RR表示，要求在平均累計(jì)計(jì)數(shù)不小于2X10°時(shí)，x射線管功率在1 kW及以上的光譜儀相對(duì)極差RR不大于0.8%; X射線管功率在1 kW以下的光譜儀相對(duì)極差RR不大于5%。4.3.3光譜儀探測(cè)器 能量分辨率:流氣正比計(jì)數(shù)器不大于40%，封閉氣體正比計(jì)數(shù)器不大于50%，閃爍計(jì)數(shù)器不大于60%。4.3.4 X射線管功率在1 kW及以上的光譜儀計(jì)數(shù)系統(tǒng)線性計(jì)數(shù)偏差不大于2%，X射線管功率在1 kw以下的光譜儀計(jì)數(shù)系統(tǒng)線性計(jì)數(shù)偏差不大于4%。4.3.5光譜儀計(jì)數(shù) 器高壓穩(wěn)定度RR不大于0.1%。4.3.6 X 射線管功率在1 kW及以上的光譜儀，X射線發(fā)生器高壓及管電流穩(wěn)定度RR不大于0.01%;X射線管功率在1kW以下的光譜儀，X射線發(fā)生器高壓及管流穩(wěn)定度RR不大于0.1%。4.3.7光譜儀主 軸圓跳動(dòng)公差按GB/T 1184- 1996選用5級(jí)。4.4安全和防護(hù)4.4.1光譜儀應(yīng)設(shè)有 X射線防護(hù)裝置:a)正常操作時(shí)，人體的任何部位都不允許進(jìn)入機(jī)殼內(nèi)部;b) X射線源與防護(hù)罩具有聯(lián)鎖裝置，當(dāng)打開(kāi)機(jī)殼時(shí)，即切斷X射線管的高壓電源或關(guān)閉射線束出口。4.4.2額定功率下， 打開(kāi)射線源，距離防護(hù)罩外表面5 cm的任何位置，射線空氣比釋動(dòng)能率均不得超過(guò)25 μGy/h (2.5 mR/h)。4.4.3光譜儀應(yīng)設(shè)有保護(hù)裝置:a)當(dāng)管電壓、管電流、運(yùn)行功率超過(guò)額定值5%時(shí)，或無(wú)管電壓時(shí)應(yīng)能自動(dòng)切斷高壓;b)如果需要冷卻裝置，出水口流量、壓力、電導(dǎo)值超過(guò)規(guī)定值時(shí)，應(yīng)能自動(dòng)切斷高壓。4.5外觀質(zhì)量4.5.1表面鍍層應(yīng)堅(jiān)固， 無(wú)脫落現(xiàn)象。4.5.2零件加工表面不應(yīng) 有碰傷和劃傷。2JB/T 11145- -20114.5.3非加工和 易銹表面應(yīng)有防銹措施。5測(cè)試條件和主要儀器、 儀表5.1測(cè)試條件除特別指明外，所有試驗(yàn)的環(huán)境條件按4.1給出的條件執(zhí)行。5.2試驗(yàn)使用的主要儀器、 儀表a)最大允許誤差為0.5級(jí)的交、直流電壓表和電流表;b)500V和2500V兆歐表;c)最大允許誤差為土0.006%的七位數(shù)字電壓表和最大允許誤差為士0.03%的五位數(shù)字電流表;d)最大允許誤差為土10%的劑量?jī)x:e) 1級(jí)準(zhǔn)確度的千分表和扭簧比較儀;f)頻率50MHz雙蹤示波器。6試驗(yàn)方法6.1 精度(RSD)的測(cè)試精度以10次連續(xù)重復(fù)測(cè)量的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。每次測(cè)量都必須改變機(jī)械設(shè)置條件,包括晶體、計(jì)數(shù)器、準(zhǔn)直器、20角度、濾片等。用公式(1) ~公式(4)表示:_δRSD=o=三X 10....N= SN ...................... (2)旨n.................................. (3)2(N,-N)δ=\=Ln-1式中:8---n次測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)偏差;N--n次測(cè)量的平均計(jì)數(shù)值;I-- i 次測(cè)量的計(jì)數(shù)率;T--測(cè)量時(shí)間;n---測(cè)量次數(shù)。連續(xù)10次測(cè)量中，如果數(shù)據(jù)超出標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值，實(shí)驗(yàn)應(yīng)重做。先對(duì)各運(yùn)動(dòng)部件單獨(dú)進(jìn)行重現(xiàn)性測(cè)試，每次只改變測(cè)試條件1 (見(jiàn)6.1.8)中的一個(gè)運(yùn)動(dòng)部件。6.1.1 2θ 角重現(xiàn)性試驗(yàn)條件1在2 θ=Cu-Ka光譜峰位置測(cè)量，條件2在20= Cu-Ka光譜峰位置+ 10°測(cè)量。6.1.2準(zhǔn)直器重現(xiàn)性試驗(yàn)測(cè)試條件1在粗準(zhǔn)直器下，測(cè)試條件2在細(xì)準(zhǔn)直器下測(cè)量。6.1.3發(fā)生 器重現(xiàn)性試驗(yàn)X射線管功率在1kW及以上的光譜儀，測(cè)試條件1在20kV、10mA的條件下，測(cè)試條件2在50 kV、20 mA的條件下測(cè)量; X射線管功率在1 kW以下的光譜儀，條件1在40 kV、最高毫安值的條件下，測(cè)試條件2在低于測(cè)試條件1下測(cè)量。6.1.4晶體交 換器重現(xiàn)性試驗(yàn)測(cè)試條件1用LiF200、閃爍計(jì)數(shù)器測(cè)量，測(cè)試條件2用2號(hào)晶體、流氣正比計(jì)數(shù)器測(cè)量。JB/T 11145- -20116.1.5初級(jí)濾片 重現(xiàn)性試驗(yàn)(無(wú)濾片不做)測(cè)試條件1在加濾片的條件下測(cè)量，測(cè)試條件2在無(wú)濾片的條件下測(cè)量。6.1.6光闌重 現(xiàn)性試驗(yàn)測(cè)試條件1在光闌為30mm的條件下測(cè)量，測(cè)試條件2在光闌為20mm的條件下測(cè)量。6.1.7樣品杯重現(xiàn)性試驗(yàn)分別用多個(gè)樣品杯測(cè)量，每個(gè)測(cè)量-次。以上測(cè)試只計(jì)算測(cè)試條件1的結(jié)果，測(cè)試條件2只測(cè)量1s,不計(jì)算結(jié)果。6.1.8綜合精度 測(cè)試測(cè)試條件1:純銅或黃銅樣品，測(cè)量Cu-Ko光譜，LiF 晶體，細(xì)準(zhǔn)直器，加濾片，閃爍計(jì)數(shù)器，真空光路。設(shè)置管電壓和管電流，使X射線管功率在1 kW及以上的光譜儀使Cu-Ka的計(jì)數(shù)率為(100~500) kCPS; 計(jì)數(shù)時(shí)間20s, X射線管功率在1 kW以下的光譜儀使Cu-Ka的計(jì)數(shù)率為(1~10) kCPS,可延長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間，使累計(jì)計(jì)數(shù)不小于2X10。測(cè)試條件2:純鋁樣品，測(cè)量Al-Ko光譜，PET 晶體，粗準(zhǔn)直器，無(wú)濾片，流動(dòng)氣體正比計(jì)數(shù)器，真空光路，計(jì)數(shù)時(shí)間30s。條件1和條件2交替測(cè)定，每個(gè)條件分別測(cè)定10次，若儀器有樣品自旋裝置，應(yīng)使樣品自旋。測(cè)量完后分別計(jì)算Cu-Ka及Al-Koa的測(cè)量結(jié)果。本項(xiàng)測(cè)試用于檢驗(yàn)順序式和復(fù)合式光譜儀，以及同時(shí)式光譜儀中的掃描道。檢驗(yàn)同時(shí)式儀器中的掃描道時(shí)，測(cè)試條件中的變化因素視具體儀器而定。對(duì)只具有固定通道的同時(shí)式光譜儀，只做6.1.3及6.1.7。6.2光譜儀穩(wěn)定度 (RR)的測(cè)試光譜儀的穩(wěn)定度用相對(duì)極差RR表示，見(jiàn)公式(5):N式中:Namax--測(cè)量過(guò)程中最 大計(jì)數(shù)值;Nmin-測(cè)量過(guò)程中最小計(jì)數(shù)值;N--- 整個(gè)測(cè)量的平均計(jì)數(shù)值。測(cè)試方法:閃爍計(jì)數(shù)器測(cè)量黃銅樣品的Cu-Ka光譜，正比計(jì)數(shù)器測(cè)量Al-Ka光譜，適當(dāng)設(shè)置高壓及管電流值使累計(jì)計(jì)數(shù)不小于2X10%, X射線管功率在1 kW及以上的光譜儀計(jì)數(shù)時(shí)間40s, X射線管功率在1 kW以下的光譜儀計(jì)數(shù)時(shí)間可加長(zhǎng)，使累計(jì)計(jì)數(shù)不小于2X10。儀器恒溫化8h以上，高壓打開(kāi)穩(wěn)定1h后連續(xù)測(cè)量6h,測(cè)量期間不能進(jìn)行儀器校準(zhǔn)。穩(wěn)定度的測(cè)試結(jié)果用相對(duì)極差RR表示。X射線管功率在1kW及以上的儀器6h穩(wěn)定度RR不大于0.8%; X射線管功率在1kW以下的光譜儀6h穩(wěn)定度RR不大于5%。對(duì)同時(shí)式X射線熒光光譜儀，測(cè)量可選擇-一個(gè)閃爍計(jì)數(shù)器通道及一個(gè)正比計(jì)數(shù)器通道或掃描道進(jìn)行。6.3儀器計(jì)數(shù)線性的測(cè)定6.3.1 X 射線管功率在1 kW及以上的光譜儀分別對(duì)閃爍計(jì)數(shù)器及正比計(jì)數(shù)器測(cè)試，閃爍計(jì)數(shù)器測(cè)量Cu-Ka光譜，正比計(jì)數(shù)器測(cè)量Al-Ka光譜,X射線高壓設(shè)置為20kV~30kV，電流分別為5mA、10mA、15 mA、20 mA、25 mA、30 mA、...測(cè)量各點(diǎn)的計(jì)數(shù)率，計(jì)數(shù)時(shí)間取10s，每個(gè)電流點(diǎn)測(cè)量3次，取平均值，記錄為I，2, I3, ... In,一直測(cè)量到儀器允許的最大計(jì)數(shù)率。以5 mA點(diǎn)的計(jì)數(shù)率為基準(zhǔn)計(jì)算各點(diǎn)的理論計(jì)數(shù)率W,=IXn,偏差CD=|Wn- I|/W,.X 100%，所有各點(diǎn)的CD應(yīng)不大于2%。對(duì)多通道X射線熒光光譜儀，應(yīng)對(duì)固定道及掃描道分別進(jìn)行。4JB/T 11145- 20116.3.2 X 射線管功率在1 kW以下的光譜儀對(duì)于小功率儀器，最后一點(diǎn)的電流應(yīng)達(dá)到X射線管的最高允許電流，向下按比例選取8點(diǎn)~10點(diǎn)，測(cè)量方法同6.3.1;所有各點(diǎn)的CD應(yīng)不大于4%。.6.4 探測(cè)器能量分辨率的測(cè)定探測(cè)器的能量分辨率以脈沖高度分布的半峰寬和峰位置的百分比，用公式(6) 表示:R=-x 100% ............................ (6)~V式中:R--探測(cè) 器的能量分辨率;W-- -脈沖 高度分布的半峰寬;-脈沖高度分布的峰位置。6.4.1流氣正比計(jì)數(shù)器測(cè)量Al-Ko光譜。設(shè)置X射線高壓和電流，使x射線管功率在1kw及以上的光譜儀計(jì)數(shù)率在(20~50) kCPS，X射線管功率在1 kW及以下的儀器計(jì)數(shù)率在(1~3) kCPS,選擇2%以下窗口寬度，進(jìn)行自動(dòng)基線掃描，繪制脈沖高度分布曲線，并由軟件自動(dòng)計(jì)算能量分辨率，R不大于40%合格。6.4.2閃爍計(jì)數(shù) 器測(cè)量Cu-Ka光譜。測(cè)量步驟同6.4.1, R不大于60%合格。6.4.3封閉氣體正比計(jì)數(shù)器， 該類型計(jì)數(shù)器主要用于同時(shí)式X射線熒光光譜儀中的固定道。對(duì)每一-個(gè)固定道的計(jì)數(shù)器，按該通道規(guī)定的元素測(cè)定探測(cè)器的能量分辨率，方法同6.4.1, R不大于50%合格。6.5散漏射線空氣比釋動(dòng)能率測(cè)試6.5.1測(cè)量條件:a)管電壓為額定值;b)功率為額定值。6.5.2測(cè)量方法:關(guān)閉防護(hù)罩，打開(kāi)射線源，測(cè)量距離防護(hù)罩表面5 cm的任意位置。散漏射線空氣比釋動(dòng)能率均不應(yīng)超過(guò)25 μGy/h (2.5 mR/h)。6.6X射線管電壓及管電流穩(wěn)定度測(cè)試X射線發(fā)生器高壓及管電流穩(wěn)定度及計(jì)數(shù)器的高壓穩(wěn)定度測(cè)試使用七位數(shù)字電壓表，連續(xù)測(cè)量3h以上，取最大、最小值、平均值，計(jì)算RR (見(jiàn)6.2)。6.7外觀質(zhì) 量檢驗(yàn)外觀質(zhì)量檢驗(yàn)用目測(cè)法，應(yīng)在正常照明條件下和無(wú)輔助觀察等設(shè)備情況下進(jìn)行。7檢驗(yàn)規(guī)則7.1 出廠產(chǎn)品檢驗(yàn)7.1.1凡出廠 產(chǎn)品應(yīng)經(jīng)過(guò)制造廠質(zhì)量檢驗(yàn)部門按出廠檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)合格，簽發(fā)產(chǎn)品合格證后方可出廠。7.1.2出廠 檢驗(yàn)項(xiàng)目按表1規(guī)定項(xiàng)目進(jìn)行。7.2 型式檢驗(yàn)7.2.1凡屬 下列情況之一者， 應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行型式檢驗(yàn):a)新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的型式鑒定:b)正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料、工藝有較大的改變，可能影響產(chǎn)品性能時(shí);c)正式生產(chǎn)時(shí)，每年進(jìn)行一次檢驗(yàn);d)產(chǎn)品長(zhǎng)期停產(chǎn)后，恢復(fù)生產(chǎn)時(shí):e)出廠檢驗(yàn)結(jié)果與上次型式檢驗(yàn)結(jié)果有較大差異時(shí);f)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫機(jī)構(gòu)提出進(jìn)行型式檢驗(yàn)要求時(shí)。JB/T 11145- -2011表1光譜儀出廠檢驗(yàn)和型 式檢驗(yàn)項(xiàng)目序號(hào)項(xiàng)目對(duì)應(yīng)條款檢驗(yàn)方法出廠檢驗(yàn)型式檢驗(yàn)1綜合精度(RSD)4.3.16.1.82儀器穩(wěn)定度(RR)4.3.26.23儀器計(jì)數(shù)線性4.3.46.3J4探測(cè)器能量分辨率4.3.36.射線空氣比釋動(dòng)能率4.4.26外觀質(zhì)量.56.7注:“小”為必檢項(xiàng)目，“一”為不檢項(xiàng)目。8標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存8.1 標(biāo)志每臺(tái)光譜儀應(yīng)在主機(jī)明顯適當(dāng)?shù)奈恢霉潭ㄣ懪?標(biāo)志)，其內(nèi)容包括下列各項(xiàng):a)規(guī)格、型號(hào);b)主要技術(shù)參數(shù);c)制造日期或編號(hào):d)制造企業(yè)名稱及商標(biāo)。8.2包裝8.2.1光譜儀的包裝檢查應(yīng)按 GB/T 13384的規(guī)定。8.2.2包裝箱 內(nèi)應(yīng)按JB/T 9329的規(guī)定。8.2.3包裝箱外壁 上文字和標(biāo)志應(yīng)清楚，而且不應(yīng)因搬運(yùn)摩擦而模糊不清，其內(nèi)容包括下列各項(xiàng):a)產(chǎn)品名稱;b)收貨單位和地址及電話:c)發(fā)貨單位和地址及電話;d)包裝箱應(yīng)有“易碎物品”、“向上”、“怕雨”、“禁止翻滾”等標(biāo)志，并符合GB/T 191- -2008 中表1規(guī)定的包裝儲(chǔ)運(yùn)標(biāo)志的圖形和名稱;e)產(chǎn)品執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)及名稱。8.2.4包裝箱內(nèi) 應(yīng)附有下列隨行文件:a)產(chǎn)品裝箱單;b)產(chǎn)品合格證;c)產(chǎn)品說(shuō)明書。8.3運(yùn)輸和貯存8.3.1光譜儀 的運(yùn)輸時(shí)應(yīng)防止振動(dòng)和碰撞，并遵守包裝箱外壁上文字和標(biāo)志的規(guī)定。8.3.2光譜 儀貯存地點(diǎn)及周圍環(huán)境不應(yīng)有腐蝕性氣體，環(huán)境溫度、空氣相對(duì)濕度符合JB/T 9329- 1999中第3章的規(guī)定。庫(kù)內(nèi)保持空氣流通，地面干凈。中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)X射線熒光光譜儀JB/T 1145- -2011機(jī)械工業(yè)出版社出版發(fā)行北京市百萬(wàn)莊大街22號(hào)郵政編碼: 100037210mmX 297mm●0.75印張.17千字2012年7月第1版第1次印刷定價(jià): 15.00 元書號(hào): 15111 ●10455網(wǎng)址: http: //www .cmpbook. com編輯部電話: (010) 88379778直銷中心電話: (010) 88379693封面無(wú)防偽標(biāo)均為盜版JB/T 11145-2011版權(quán)專有侵權(quán)必究打印日期: 2012年8月16日F009A