Cs25.060.20J中華人民共和國機械行業(yè)標準JB/T10007-1999大外徑千分尺(測量范圍為1000~3000mm)Large external micrometer99905-20發(fā)布2000-01-01實施國家機械工業(yè)局發(fā)布JBT10007-1999前言本標準是在ZBJ4200487《大外徑千分尺(測量范圍為1000m至3000m)》的基礎上修訂的本標準與ZBJ4200487的技術內(nèi)容一致,僅按有關規(guī)定重新進行了編輯。本標準的附錄A是標準的附錄本標準自實施之日起代替ZBJ4200487。本標準由全國量具量儀標準化技術委員會提出并歸口本標準負責起草單位:哈爾濱量具刃具廠本標準參加起草單位:青海量具刃其廠、成都量具刃具廠、北京第二量具廠。本標準主要起草人:楊川羅迪秋、李靜華、徐稠。本標準于1987年首次發(fā)布。中華人民共和國機械行業(yè)標準JB/T10007-1999大外徑千分尺(測量范圍為1000-3000mm)代替ZBJ4200487Large external micrometer范圍本標準規(guī)定了大外徑千分尺的型式與尺寸、技術要求、標志與包裝等。本標準適用于分度值為0.01mm、測微螺桿螺距為05mm或1mm、量程為25mm或50mm、測量范圍為1000-3000mm的大外徑千分尺(以下簡稱大千分尺引用標準下列標準所包含的條文,通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時,所示版本均為有效。所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GBT1219-1985百分表3定義本標準采用下列定義1大外徑千分尺利用螺旋副原理,對尺架上兩測量面間分隔的距離進行讀數(shù)的外尺寸測量器具,其分度值為001mm,測量下限等于或大于1000mma3.2示值誤差刻度指示值與兩測量面實際分隔的距離之差3.3測微頭的移動偏差沿測微螺桿全量程得到的示值誤差曲線上,曲線的最高點與最低點在縱坐標上的差值4型式與尺寸4.1測砧為可調(diào)式的大千分尺型式見圖1(圖示僅作圖解說明,不表示詳細結構)其測量范圍如下1000-1200mm,1200-1400mm,1400-1600mm,1600-1800mm,1800-2000mm,2000-2200mm2200~2400mm,2400-2600mm,2600-2800mm,2800-3000mm4.2測砧為帶表式的大千分尺型式見圖2(圖示僅作圖解說明,不表示詳細結構)。其測量范圍如下:1000-1500mm,1500-2000mm,2000-2500mm,2500-3000mm4.3大千分尺固定套管的刻度數(shù)字,除了特別規(guī)定之外,應按表1的規(guī)定。4,4測微螺桿和測砧的測量端直徑應為8mm。4.5大千分尺應具有測力裝置、隔熱裝置和緊固測微螺桿的鎖緊裝置。國家機械工業(yè)局199905-20批準2000-01-01實施JBrT10007-1999力裝置測砧緊因螺有活動測砧鎖案裝置圖表1測微頭量程刻度數(shù)字標記20,255.1大千分尺不得有影響使用性能的外部缺陷5.2大千分尺測微螺桿的移動應平穩(wěn)、靈活,無卡滯現(xiàn)象,其軸向和徑向間隙應不大于01mm5.3大千分尺兩測量面不應有明顯的偏位。5.4固定套管縱刻線和微分筒上的刻線寬度應為015-020mm,刻線寬度差應不大于003mm5.5大千分尺對零位時,微分筒錐面的端面至固定套管刻線的距離允許壓線不大于005mm,離線不大于010mme5.6大千分尺固定套管縱刻線表面至微分簡錐面棱邊的距離應不大于040mm5.7大千分尺測量面的硬度應不低于766HV(≈62HRC58大千分尺測量面的表面粗糙度R值為004m5.9大千分尺測量面與球面接觸時的測量力應為8-12N,測量力的變化不大于2N。5.10大千分尺測量面的平面度公差為06m。5.11大千分尺測微頭在25mm量程范圍內(nèi)的移動偏差應不超過3m;在50mm量程范圍內(nèi)的移動偏差應不超過5μm。5.12大千分尺的示值誤差、兩測量面的平行度以及尺架在沿測微螺桿軸線方向受1N力時的變形,不大于表2的規(guī)定。表2測量范圍示值誤差兩測量面的平行度尺架受12N力時的變形測砧為可調(diào)式的大千分尺2000-2200測砧為帶表式的大千分尺5.13大千分尺應附有調(diào)整零位的工具和校對量桿;校對量桿尺寸偏差見表35.14校對量桿測量面的硬度應不低于766HV(=62HRC5.15校對量桿測量面的表面粗糙度R值為004μm5.16測砧為帶表式的大千分尺,其技術要求需增加如下規(guī)定。5.16.1百分表的測量范圍應為0-10mm,其技術要求應符合GBT1219的規(guī)定5.16.2百分表應安裝牢固、可靠,并建議裝有防護表罩。5.16.3百分表安裝時,其預壓縮量應不小于0.5mm5.16.4百分表測量桿與活動測砧的接觸應可靠。推動測砧時,百分表測量桿的移動應平穩(wěn)、靈活不得有卡滯或松動現(xiàn)象。5.16.5百分表測量桿軸線應與測砧移動方向一致JB10007-1999表3尺寸偏差標稱尺寸尺寸保差1025,1075,1125,11752025,2075,2125,217525,23751425.1475,1525,15752425,2475,2525,2575±261625.1675,1725,1775725,27751835.183195,1952825,2875,2925,29751對零位時應對校對量桿尺寸偏差進行修正2校對量桿應附有接套,并應有隔熱裝置。6標志與包裝1大千分尺上應標志a)制造廠廠名或注冊商標;b)測量范圍;c)分度值;d)產(chǎn)品序號。62校對量桿上應標志標稱尺寸6.3大千分尺的包裝盒上應標志:a)制造廠廠名或注冊商標b)產(chǎn)品名稱;c)測量范圍。6.4大千分尺在包裝前應經(jīng)防銹處理并妥善包裝,不得因包裝不善而在運輸過程中損壞產(chǎn)品。6.5大千分尺經(jīng)檢定符合本標準要求的,應附有產(chǎn)品合格證;產(chǎn)品合格證上應標有本標準的標準號產(chǎn)品序號和出廠日期JBr10007-1999標準的附錄)大千分尺的檢查方法本附錄是關于生產(chǎn)廠出廠檢驗大千分尺的測試方法A1測微頭的移動偏差將測微頭仔細地緊固到夾具或平板上,并在接近于測微螺桿測量面安裝一個長度合適、具有一個球測量面的臨時固定測砧,然后用表A1所列尺寸系列的一組1級(或4等)精度的量塊進行檢驗表A125,51,77,103,129,15,176,20.2,22.8,2525,77,129,176,22.8,301,35,3,40,452,.50根據(jù)各受檢點的示值機構指示值與量塊實際尺寸之差繪制示值誤差曲線,由曲線的最高點與最點在縱坐標上的差值求得。A2示值誤差大千分尺的示值誤差可用內(nèi)徑千分尺或校對量桿檢驗。檢驗時,先在測微頭的下限(或上限)位置上,用校對好的校對量桿或內(nèi)徑千分尺校對零位,然后轉動微分筒至測徵頭的上限(或下限)位置,并用第二次校對好的內(nèi)徑千分尺或校對量桿檢查測微頭上限(或下限)時的示值,測微頭上的指示值與內(nèi)徑子分尺或校對量桿的實際尺寸之差即為大千分尺示值誤差。該檢驗至少應在大于分尺的上限和下限兩個位置上進行。如果大千分尺帶表,則應在對零位時使表和測微頭同時對零,檢驗時將測微頭旋至名義尺寸,在表上讀取示值誤差值A3尺架受12N力時的變形將大千分尺一端固定后,用專用量桿對零位(包括量桿重量對尺架的影響).再在另一端加36N的力,由測砧上的百分表(測砧為帶表的)或測微頭(測砧為可調(diào)式的)上讀取數(shù)值,然后折算成尺架受12N力時的變形值A4軸向間隙和徑向間隙A4.1用手感檢查軸向間隙。如有異議時,則在專用檢具上測出軸向間隙值。A4.2用手感檢查徑向間隙。如有異議時,則在專用檢具上、在距尺架內(nèi)端面10mm處測出徑向間隙A5測量力和測量力變化在千分尺專用測力計上測出大千分尺的測量力和測量力的變化值JBrT10007—1999A6測量面硬度在距測量面1mm的光滑圓柱部分處進行測量,對于硬質(zhì)合金測量面該項檢驗可以免檢7兩測量面的偏位將大千分尺尺架平放在平臺上的三個可調(diào)支承架上,調(diào)整支承架使測微螺桿伸出部分軸線與平臺平面平行,分別測出測微螺桿和測砧至平臺平面之間的距離,兩距離的差值為水平位置偏位8然后將大千分尺尺架圍繞測微螺桿軸線轉動90°,使尺架與平臺平面垂直,按上述步驟測出尺架垂直位置的偏位8,兩測量面的偏位由式(A1)計算測量范圍為1002000mm的大千分尺,兩測量面的偏位應不大于15mm;測量范圍為20003000mm的大千分尺,兩測量面的偏位應不大于20mmA8兩測量面的平行度用專用檢驗量桿進行檢驗。該項檢驗至少應在靠近測量上限和測量下限兩處檢驗