Ⅲ/Ⅴ族化合物半導(dǎo)體器件的空間應(yīng)用可靠性

論文簡介

論述了Ⅲ/Ⅴ半導(dǎo)體器件在空間系統(tǒng)應(yīng)用中的可靠性和質(zhì)量鑒定方法.討論了空間應(yīng)用中該類器件常見的失效機(jī)制、輻射效應(yīng)以及其它與高可靠性空間應(yīng)用中相關(guān)的可靠性鑒定技術(shù)方法.

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