極低溫SMD器件S參數(shù)提取技術(shù)研究

期刊名字：科學(xué)技術(shù)與工程
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論文作者：段容宜，劉英，夏桂書(shū)
作者單位：中國(guó)民用航空飛行學(xué)院航空工程學(xué)院
更新時(shí)間：2023-04-01
下載次數(shù)：次

論文簡(jiǎn)介

對(duì)SMD器件的參數(shù)提取技術(shù)發(fā)展和研究現(xiàn)狀進(jìn)行介紹.分析研究了嵌入的測(cè)試網(wǎng)絡(luò)對(duì)被測(cè)件的參數(shù)提取的影響.設(shè)計(jì)了一套對(duì)極低溫環(huán)境下的微波器件的參數(shù)提取系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)SMD器件在低溫環(huán)境下的相關(guān)參數(shù)提取,為低溫下的微波電路設(shè)計(jì)提供了有力的技術(shù)方案.

論文截圖

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