隱身應(yīng)用中等離子體參數(shù)的Nelder-Mead優(yōu)化反演研究

期刊名字：核聚變與等離子體物理
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論文作者：程立，時家明
作者單位：脈沖功率激光技術(shù)國家重點實驗室
更新時間：2023-03-21
下載次數(shù)：次

論文簡介

采用Nelder-Mead單純形算法實現(xiàn)了等離子體隱身時多個等離子體參數(shù)的優(yōu)化反演,初步解決了隱身應(yīng)用研究中等離子體參數(shù)的局部最優(yōu)取值問題.反演結(jié)果表明,對于非磁化均勻冷等離子體,在選定的參數(shù)取值范圍內(nèi),吸收程度由等離子體的電子密度、碰撞頻率及等離子體層厚度共同決定.等離子體層厚度決定了最佳吸收波長,且當入射雷達波頻率大于某一頻率時,等離子體碰撞頻率趨于一個穩(wěn)定值.

論文截圖

上一條：一種環(huán)形波導(dǎo)微波等離子體裝置

下一條：低溫等離子體對血管內(nèi)金屬支架的表面改性

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