本文件描述了微波電路中檢波器（以下簡稱“檢波器”）的電參數(shù)測試方法。 本文件適用于單管、單片及混合集成等微波電路中檢波器的電參數(shù)測試，包括檢波二極管、均方根檢波器、對數(shù)放大檢波器、包絡/峰值檢波器等。 標準號：GB/T 42972-2023 標準名稱：微波電路檢波器測試方法 英文名稱：Microwave circuits—Test methods for detector 發(fā)布日期：2023-09-07 實施日期：2024-01-01 引用標準：GB/T 17573-1998 起草人：遲雷、彭浩、高金環(huán)、黃杰、高蕾、趙濤、王磊、陳季翔、王鉀、魏兵、趙鵬、徐昕、何黎、米村艷 起草單位：中國電子科技集團公司第十三研究所、河北北芯半導體科技有限公司、深圳市標準技術(shù)研究院、深圳市深標知識產(chǎn)權(quán)促進中心、河北中電科航檢測技術(shù)服務有限公司、北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測實驗室有限公司、武漢格物芯科技有限公司、綿陽邁可微檢測技術(shù)有限公司 歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 78) 提出部門：中華人民共和國工業(yè)和信息化部