本文件規(guī)定了集成電路（IC）對標(biāo)準(zhǔn)傳導(dǎo)電瞬態(tài)騷擾的抗擾度測量方法。與受試器件（DUT）運行不同步的騷擾通過耦合網(wǎng)絡(luò)施加給IC引腳。不管電瞬態(tài)騷擾是否在IC規(guī)定的工作電壓范圍之內(nèi)，本方法都能夠得到傳導(dǎo)電瞬態(tài)騷擾和其引起的IC性能降級之間的相互關(guān)系并對其進(jìn)行分類。 標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 43034.3-2023 標(biāo)準(zhǔn)名稱：集成電路脈沖抗擾度測量第3部分：非同步瞬態(tài)注入法 英文名稱：Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3:Non-synchronous transient injection method 發(fā)布日期：2023-09-07 實施日期：2024-01-01 引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.4-2018 GB/T 17626.5-2019 ISO 7637-2:2011 IEC 60050-131 IEC 60050-161 IEC 62132-4:2006 采用標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62215-3:2013《集成電路脈沖抗擾度測量第3部分:非同步瞬態(tài)注入法》 IDT 等同采用 起草人：付君、崔強、吳建飛、李楠、喬彥彬、朱賽、方文嘯、葉暢、鄭益民、曾敏雄、劉小軍、靳冬、劉佳、楊紅波、劉星汛、唐元貴、梁吉明、陳燕寧、白云、褚瑞、萬發(fā)雨、張紅升、胡小軍、亓新、李旸、朱崇銘、陳嘉聲、王少啟、陳梅雙 起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、天津先進(jìn)技術(shù)研究院、廣州市誠臻電子科技有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、浙江諾益科技有限公司、廣州市轟銳電子有限公司、深圳市北測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司、中國合格評定國家認(rèn)可中心、揚芯科技(深圳)有限公司、北京無線電計量測試研究所、廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司、北京芯可鑒科技有限公司、河南凱瑞車輛檢測認(rèn)證中心有限公司、南京信息工程大學(xué)、重慶郵電大學(xué)、蘇州泰思特電子科技有限公司、中國家用電器研究院、安徽中認(rèn)倍佳科技有限公司、廣州廣電計量檢測股份有限公司、江蘇省電子信息產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗研究院(江蘇省信息安全測評中心)、安徽省計量科學(xué)研究院 歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 78)