本文件定義了集成電路（IC）傳導(dǎo)和輻射騷擾電磁抗擾度測(cè)量的通用信息，描述了常規(guī)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)設(shè)備和布置、試驗(yàn)程序和試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)容。附錄A中給出了試驗(yàn)方法的對(duì)照表，幫助選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)量方法。 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 42968.1-2023 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：集成電路電磁抗擾度測(cè)量第1部分：通用條件和定義 英文名稱(chēng)：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1:General conditions and definitions 發(fā)布日期：2023-09-07 實(shí)施日期：2024-01-01 引用標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62132-3 IEC 62132-4 采用標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62132-1:2015《集成電路電磁抗擾度測(cè)量第1部分:通用條件和定義》 IDT 等同采用 起草人：崔強(qiáng)、付君、喬彥彬、鄭益民、方文嘯、吳建飛、葉暢、李楠、朱賽、楊紅波、劉星汛、李金龍、張艷艷、白云、周香、劉小軍、黃雪梅、陳燕寧、邵鄂、萬(wàn)發(fā)雨、臧琦、劉佳、梁吉明、胡小軍、郭文明、張金玲、邢立文、張青青、張先利、陳梅雙 起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、北京智芯微電子科技有限公司、浙江諾益科技有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、天津先進(jìn)技術(shù)研究院、廣州市誠(chéng)臻電子科技有限公司、揚(yáng)芯科技(深圳)有限公司、北京無(wú)線電計(jì)量測(cè)試研究所、上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院、中國(guó)家用電器研究院、河南凱瑞車(chē)輛檢測(cè)認(rèn)證中心有限公司、東南大學(xué)、深圳市北測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司、中國(guó)汽車(chē)工程研究院股份有限公司、北京芯可鑒科技有限公司、南京信息工程大學(xué)、中國(guó)信息通信研究院、中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可中心、廈門(mén)海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司、蘇州泰思特電子科技有限公司、鄭州新基業(yè)汽車(chē)電子有限公司、北京郵電大學(xué)、南京容向測(cè)試設(shè)備有限公司、上海電器設(shè)備檢測(cè)所有限公司、中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十二研究所 歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78)