本文件描述了半導(dǎo)體集成電路交流到直流（AC/DC）變換器（以下簡(jiǎn)稱器件）參數(shù)測(cè)試方法。 本文件適用于半導(dǎo)體集成電路AC/DC變換器參數(shù)的測(cè)試。 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 43040-2023 標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路AC/DC變換器測(cè)試方法 英文名稱：Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters 發(fā)布日期：2023-09-07 實(shí)施日期：2024-04-01 起草人：王福強(qiáng)、劉玢、李雷、鄧些鵬、馬寶鋒、陳志培、劉強(qiáng)、韓新峰、胡巧玉 起草單位：中國(guó)航天科技集團(tuán)有限公司第九研究院第七七一研究所、中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所 歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78)