本規(guī)范適用于0.1μm級(jí)行程為0~10mm、0.2μm級(jí)行程為0~25mm、0.5μm級(jí)行程為0~50mm、1μm級(jí)～10μm級(jí)行程為0~100mm的光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)。范 JJF 1682-2017 光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)規(guī)范 Calibration Specification for Grating Micrometers 2017-11-20發(fā) 布 2018-05-20實(shí) 施 櫨？：J氣‘國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布 膏 、 ＼ ’ ， ；慕 護(hù) 、「 ： 渺 JJF 1682-2017 光 柵 式 測(cè) 微 儀 校 準(zhǔn) 規(guī) 范 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 ！ JJF 1682-2017z 　 Calibration Specification for 　 　 　 Grating Micrometers 歸口單位：全國(guó)幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會(huì) 主要起草單位：中國(guó)科學(xué)院光電技術(shù)研究所 中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院 參加起草單位：安徽省計(jì)量科學(xué)研究院 本規(guī)范委托全國(guó)幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋 JJF 1682-