本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路驅(qū)動(dòng)器（以下簡(jiǎn)稱(chēng)器件）的電特性測(cè)試方法的基本原理和測(cè)試程序。 本文件適用于74/54系列驅(qū)動(dòng)器、總線驅(qū)動(dòng)器、PIN開(kāi)關(guān)驅(qū)動(dòng)器、達(dá)林頓驅(qū)動(dòng)器、時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器、LVDS驅(qū)動(dòng)器、MOSFET驅(qū)動(dòng)器和差分驅(qū)動(dòng)器等各種半導(dǎo)體工藝制造的驅(qū)動(dòng)器的電性能測(cè)試。 其他類(lèi)別驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試參考使用。