本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀或原子吸收光譜儀測定首飾銀覆蓋層厚度的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于基體為銅的銀覆蓋層首飾的銀覆蓋層厚度的測定。 QB/T 1134-2017 代替QB/T 1134-1991 首 飾 銀 覆 蓋 層 厚 度 的 測 定 光 譜 法 Jewellery-Determination of silver coatings-Method of spectrometry 2017-01-09發(fā) 布 2017-07-01實(shí) 施 中華人民共和國工業(yè)和信息化部發(fā)布 QB/T 1134-2017 — — — — 刖 呂 本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草 。 本標(biāo)準(zhǔn)代替QB/T 1134-1991《 首飾銀覆蓋層厚度的測定方法化學(xué)法 》 。 本標(biāo)準(zhǔn)與QB/T 1134-1991相比 ， 除編輯性修改外主要技術(shù)差異如下： — —修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱 ； — —修改了測定方法 。 　　本標(biāo)準(zhǔn)由中國輕工業(yè)聯(lián)合會提出 。 　　本標(biāo)準(zhǔn)由全國首飾標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會 （ SAC/TC 256） 歸口 。