この規(guī)格は，ニアフイールド法又はグレースケール法としても知られている端面畫像解申〒を行う構(gòu)造バラメータ測定器（以下，測定器という。）の校正方法について規(guī)定する。
なお，その原理は，異なる形式の測定器にも適用することができる。
この規(guī)格で規(guī)定する乎順は，測定器を校正する目的及び校正済み測定器を用いた測定における不確かさを評価する目的で，校正機(jī)関，校正測定器の製造業(yè)者又は使用者が実行することができる。この規(guī)格では，光フアイバ被覆又はケープル測定に用いる測定器の校正については扱わない。S C 6828:2019 (IEC 61745:2017) (OITDA/JSA) × －ノ 令和元年II月20日改正 日 本 産 業(yè) 標(biāo) 準(zhǔn) 調(diào) 査 會 審 議 （日本規(guī)格協(xié)會発行） ? 作臓法によ り 無斯での洩製 ，転載等は禁if： さ れており ます． C 6828 : 2019 (IEC 61745: 2017) ● I-1本産業(yè)漂準(zhǔn)調(diào)査會標(biāo)準(zhǔn)第二部會構(gòu)成表 氏 名 所 屬 （ 部 會 長 ） 大 崎 博 之 東 京 大 學(xué) （委員）青柳恵美子公益社団法人日本消費(fèi)生活アド パイザー？ コンサル夕ント ？ 相談1.1協(xié)會