本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電子背散射衍射（Electron backscatter diffraction,EBSD）技術(shù)對金屬及合金中的相進(jìn)行定性和定量分析時(shí)參數(shù)校正、數(shù)據(jù)采集的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于EBSD對金屬及合金試樣的相分析，其他多晶或單晶材料的EBSD相分析也可參照執(zhí)行。GB/T 34172-2017 微束分析電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法 Microbeam analysis-Electron backscatter diffraction- 　 　 　 　 Phase analysis method of metal and alloy 2017-09-07發(fā) 布 2018-08-01實(shí) 施 廠 ’ ？ ？ ＼土 查 缽 屐 井 型 國 國 褰 質(zhì) 革 野 憾 瓚 簪 廈 發(fā) 布 絮 荔 ／甲 幽 幽 豕 懷 (FE 1'G官 理 安 貝 云 GB/T 34172-2017 目 次 口 u‘＝ U1 I I R ...................................................................................................................... Iv i池 圍 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？