首頁 > 標(biāo)準(zhǔn)下載>GB/T 42240-2022 納米技術(shù) 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法 Nanotechnology-Measurement of metallic impurities in graphene powder- Inductively coupled plasma mass spectrometry免費(fèi)下載
GB/T 42240-2022 納米技術(shù) 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法 Nanotechnology-Measurement of metallic impurities in graphene powder- Inductively coupled plasma mass spectrometry
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 42240-2022
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2023-07-19
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本文件描述了用電感耦合等離子體質(zhì)譜技術(shù)測定石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)含量的方法。
本文件適用于石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)的測定。其他碳基納米材料,如碳納米管、碳纖維、多孔炭等所含金屬雜質(zhì)的測定參照執(zhí)行。GB/T 42240-2022
納米技術(shù)石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)的測定
電感耦合等離子體質(zhì)譜法
Nanotechnology-Measurement of metallic impurities in graphene powder-
Inductively coupled plasma mass spectrometry
2022-12-30發(fā) 布 2023-07-01實(shí) 施
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GB/T 42240-2022
目 次
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引 言 ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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