本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了雙極、MOS、結(jié)型場效應(yīng)半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)（以下稱為器件）參數(shù)測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)，也適用于多路轉(zhuǎn)換器參數(shù)的測試。GB/T 14028-2018 　代替GB/T 14028-1992 　半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)測試方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of analogue switch 2018-03-15發(fā) 布 2018-08-01實(shí) 施 　 　 　 　 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗(yàn) 檢 疫 總 局 嵯 ～ ， 。 嚴(yán) 氣 中 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會 ～ p 德 懿 、李 GB/T 14028-2018 目 次 前 言 ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 土 1范 圍 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？