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GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法 GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法

GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法

  • 標(biāo)準(zhǔn)類別：[GB] 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
  • 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T42208-2022
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 更新時(shí)間：2023-05-17
  • 下載次數(shù)：次
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本文件描述了利用透射電子顯微鏡圖像處理和分析技術(shù)進(jìn)行納米顆粒在多相體系中分散的粒徑測(cè)量方法。本文件適用于固相多相體系中納米顆粒的粒徑測(cè)量和粒徑分析。本文件也適用于在樣品制備滿足透射電子顯微鏡觀察要求時(shí)的膠體和生物組織中納米顆粒粒徑測(cè)量。

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