本文件規(guī)定了X射線衍射法測定ZSM-22分子篩相對結(jié)晶度的試驗(yàn)方法。 本文件適用于ZSM-22 (TON結(jié)構(gòu)）分子篩及其改性的ZSM-22分子篩相對結(jié)晶度的測定，相對結(jié)晶度測定范圍為32.0% ~100.0%。 本文件不適用于在XRD譜圖中檢測到明顯雜晶峰的過渡態(tài)樣品。 注:其他具有與"SM-22分子篩相同結(jié)構(gòu)的分子篩材料（如Theta-1，KZ-2，NU-10，ISI-1等）的相對結(jié)晶度測定可以參考本方法。