本文件規(guī)定了采用電子背散射衍射(electronbackscatterdiffraction,EBSD)法測量鋼中奧氏體體積分?jǐn)?shù)和形態(tài)的方法、設(shè)備、取樣和試樣制備、測量步驟、數(shù)據(jù)處理和檢驗報告。本文件適用于分析含有晶粒尺寸50nm 以上奧氏體的中、低碳鋼及中、低碳合金鋼。本文件不適用于分析晶粒尺寸小于50nm 的奧氏體,奧氏體晶粒尺寸小于50nm 會嚴(yán)重影響定量分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。注:晶粒尺寸下限是可觀察到的最小奧氏體晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取決于設(shè)備條件和操作參數(shù)。