GB/T 25184-2010X射線光電子能譜儀鑒定方法Verification method for X-ray photoelectron spectrometers

標(biāo)準(zhǔn)類別：[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 25184-2010
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時(shí)間：2022-12-09
下載次數(shù)：次

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)表面分析分委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:福建光電有限公司、廈門大學(xué)固體表面物理化學(xué)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王水菊、時(shí)海燕、丁訓(xùn)民。

標(biāo)準(zhǔn)截圖

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