本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T5201—1994《帶電粒子半導(dǎo)體探測器測試方法》,本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T5201—1994(以下簡稱原標(biāo)準(zhǔn))相比,主要技術(shù)變化如下:———增加了前言;———增加了第2章“規(guī)范性引用文件”,其他章的編號依次后推;———將原標(biāo)準(zhǔn)“術(shù)語、符號”改為第3章“術(shù)語和定義”,并完全引用GB/T4960.6—2008,不再另行編寫;———刪除了原標(biāo)準(zhǔn)2.2“符號”部分,在文中用到符號的地方予以說明;———增加了4.1“測試的參考條件或標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件”代替原標(biāo)準(zhǔn)3.1;———將原標(biāo)準(zhǔn)3.3和3.4合并為4.3;刪除了原標(biāo)準(zhǔn)3.7;———5.1“電壓-電流特性(V-I特性)”增加了反向V-I特性測試;———將原標(biāo)準(zhǔn)4.3“噪聲測量”前的懸置段改為5.3.1“測量方法和測量系統(tǒng)”,其他節(jié)編號依次后推;———將原標(biāo)準(zhǔn)4.3.6“探測器噪聲隨放大器時間常數(shù)的變化”增加新內(nèi)容后,改為5.3.7;———5.4.2“電荷收集時間”增加了對“快”、“慢”探測器的區(qū)分標(biāo)準(zhǔn);———第7章“環(huán)境試驗(yàn)”完全引用GB/T10263—2006,不再另行編寫。本標(biāo)準(zhǔn)使用重新起草法參考IEC60333:1993《核儀器 半導(dǎo)體帶電粒子探測器 試驗(yàn)程序》編制,與IEC60333:1993的一致性程度為非等效。本標(biāo)準(zhǔn)由全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC30)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中核(北京)核儀器廠。本標(biāo)準(zhǔn)起草人:李志勇、王軍。