本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10263.1一10263.10--1988《輻射探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)基本要求與方法》(以下簡(jiǎn)稱原標(biāo)準(zhǔn))的全面修訂,并代替原標(biāo)準(zhǔn).本標(biāo)準(zhǔn)在原標(biāo)準(zhǔn)文本的基礎(chǔ)上,總結(jié)原標(biāo)準(zhǔn)貫徹、實(shí)施的經(jīng)驗(yàn),并結(jié)合十幾年來(lái)核輻射探測(cè)技術(shù)的進(jìn)步和產(chǎn)品的發(fā)展進(jìn)行編寫。本標(biāo)準(zhǔn)修訂遵循的指導(dǎo)思想是突出核輻射探測(cè)器(以下簡(jiǎn)稱探測(cè)器)的環(huán)境條件與試驗(yàn)方法的特殊性,在環(huán)境條件的嚴(yán)酷等級(jí)和環(huán)境參數(shù)以及相應(yīng)的試驗(yàn)方法等方面實(shí)現(xiàn)與國(guó)際接軌探測(cè)器是核儀器系統(tǒng)探測(cè)和測(cè)量核輻射的部件,它也可以是獨(dú)立設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、試驗(yàn)、檢驗(yàn)和銷售的產(chǎn)品,同一產(chǎn)品的使用環(huán)境非常廣泛,不同產(chǎn)品之間差別極大。特別是有些探測(cè)器對(duì)溫度變化極為敏感,有些探測(cè)器在環(huán)境變化時(shí)容易受損等。當(dāng)探測(cè)器與核儀器在相同環(huán)境下工作時(shí),其嚴(yán)酷等級(jí)應(yīng)高于核儀器;特別是探測(cè)器所處的環(huán)境條件通常更嚴(yán)酷和更復(fù)雜,包括反應(yīng)堆堆芯、井下、水下等特殊使用環(huán)境,可能要經(jīng)受高核輻射、高氣壓、水壓等環(huán)境條件由于探測(cè)器使用環(huán)境的特殊性,本標(biāo)準(zhǔn)將其環(huán)境條件分為基本環(huán)境條件和可選環(huán)境條件,而將其嚴(yán)酷等級(jí)分為A--F共6級(jí)。每個(gè)等級(jí)的環(huán)境參數(shù)考慮了探測(cè)器各類應(yīng)用環(huán)境的需要。A級(jí)一E級(jí)的氣候環(huán)境、機(jī)械環(huán)境、機(jī)械活性物質(zhì)、化學(xué)活性物質(zhì)和生物條件的環(huán)境參數(shù)主要選自GB/T4796-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí)))(idtIEC60721-1;1990),并符合GB/T4798《電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件》(IEC60721-3)(共10部分)關(guān)于應(yīng)用環(huán)境條件分類和分級(jí)的規(guī)定;但充分考慮了探測(cè)器的特殊適用性。而核輻射照射和光效應(yīng)的環(huán)境參數(shù)則按原標(biāo)準(zhǔn)適當(dāng)修改。F級(jí)的環(huán)境參數(shù)則留給產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件另行規(guī)定。本標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)方法符合GB/T2421-1999《電〔電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則》(idtIEC60068-1;1988)的要求。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)多數(shù)常用試驗(yàn)項(xiàng)目依據(jù)GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法》(工EC60068-2)(共5。部分)給出了規(guī)范、詳細(xì)的試驗(yàn)方法,而對(duì)其余部分試驗(yàn)項(xiàng)目(例如沙塵、水、長(zhǎng)霉、鹽霧、太陽(yáng)輻射等),則引用GB/T2423提供的方法并給出試驗(yàn)要點(diǎn)另外,試驗(yàn)方法充分考慮了探測(cè)器的特殊性,例如探測(cè)器在多數(shù)試驗(yàn)中不處于工作狀態(tài)。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)的其他修改如下:-將原10個(gè)分標(biāo)準(zhǔn)合并為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《核輻射探測(cè)器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法》;-增加貯存和運(yùn)輸環(huán)境條件,補(bǔ)充了高溫、低溫等貯存的試驗(yàn)方法;-在使用環(huán)境條件中增加可選環(huán)境條件及其環(huán)境參數(shù),包括氣候環(huán)境條件中的溫度變化、低氣壓、高氣壓、浸水,機(jī)械環(huán)境中的自由跌落以及機(jī)械活性物質(zhì)和生物條件等,并補(bǔ)充相應(yīng)的試驗(yàn)方法;-將工頻磁場(chǎng)的環(huán)境條件擴(kuò)充為電磁環(huán)境條件,其嚴(yán)酷等級(jí)或環(huán)境參數(shù)以及試驗(yàn)方法則直接引用GB/T11684-2003《核儀器電磁環(huán)境條件與試驗(yàn)方法》本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、北京核儀器廠、深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院。本標(biāo)準(zhǔn)起草人:熊正隆、周家典、李名兆。本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布于1988年。