GB/T17626《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù)》分為以下幾個(gè)部分:GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 工頻磁場抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.12—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓波動抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)本部分為GB/T17626的第9部分。本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本部分等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-9:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)》。本部分代替GB/T17626.9—1998《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)》。本部分進(jìn)行下列編輯性修改:a) 刪除了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言和引言,將有關(guān)內(nèi)容寫入本部分前言中;b) “IEC61000-4的本部分”改為“GB/T17626的本部分”;c) 規(guī)范性引用文件中增加了GB/T4365—2003 電工術(shù)語 電磁兼容(IEC60050(161):1990,IDT);d) 6.1.1中“100A~1000A,除以線圈因數(shù)”改為“100A/m~1000A/m 除以線圈因數(shù)”;e) A.2中“場強(qiáng)/注入電流的比值(H/A)”改為“場強(qiáng)/注入電流的比值(H/I)”。本部分與GB/T17626.9—1998的主要差異如下:ⅢGB/T17626.9—2011/IEC61000-4-9:20011) 修改了氣候條件要求。2) 修改了試驗(yàn)結(jié)果的評定方法。3) 修改了試驗(yàn)報(bào)告的要求。本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC246)提出并歸口。本部分負(fù)責(zé)起草單位:上海工業(yè)自動化儀表研究院、國網(wǎng)武漢高壓研究院。本部分參加起草單位:上海儀器儀表自控系統(tǒng)檢驗(yàn)測試所、上海計(jì)量測試技術(shù)研究院。本部分主要起草人:王英、吳維寧、萬保權(quán)、鄔雄、李妮、龔增、俞磊。本部分代替標(biāo)準(zhǔn)歷次版本的發(fā)布情況為:———GB/T17626.9—1998。