GB/T 10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法Method of test for electrical resistance and resistivity of insulating materials at elevated temperatures
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 10581-2006
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2022-07-12
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60345:1971《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》(英文版)。為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改:a)刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言;b)增加了第2章規(guī)范性引用文件;C)圖按GB/T1.1-2000標(biāo)注。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T10581-1989《固體絕緣材料在高溫下絕緣電阻和體積電阻率的試驗(yàn)方法》。本標(biāo)準(zhǔn)由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:桂林電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王先鋒。本標(biāo)準(zhǔn)于1989年2月首次發(fā)布,本次為第一次修訂。
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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