YS/T34《高純砷化學分析方法》包括3個部分:———第1部分:高純砷化學分析方法 電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)測定高純砷中雜質(zhì)含量;———第2部分:高純砷化學分析方法 極譜法測定硒量;———第3部分:高純砷化學分析方法 極譜法測定硫量。本部分是YS/T34的第3部分。本部分代替YS/T34.4—1992《高純砷化學分析方法 極譜法測定硫量》。本部分按照GB/T1.1—2009《標準化工作導則 第1部分:標準的結構和編寫》的規(guī)定編寫。本部分由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。本部分負責起草單位:峨嵋半導體材料廠。本部分主要起草人:程高明、唐云博。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:———YS/T34.4—1992。