本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO14707:2000《表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則》。本標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)施應(yīng)用中,應(yīng)同時(shí)引用ISO3497:1990《金屬鍍層鍍層厚度的測定X射線光譜法》等相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為規(guī)范性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:寶山鋼鐵股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張毅、陳英穎、沈電洪、張志穎。