$GB/T 23413-2009納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定.X射線(xiàn)衍射線(xiàn)寬化法Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method$ $GB/T 23413-2009納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定.X射線(xiàn)衍射線(xiàn)寬化法Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method$

GB/T 23413-2009納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定.X射線(xiàn)衍射線(xiàn)寬化法Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：[GB] 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 23413-2009
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時(shí)間：2022-06-06
下載次數(shù)：次

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本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為規(guī)范性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：鋼鐵研究總院、首鋼技術(shù)研究院。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：方建鋒、鄭毅、李琪、張晉遠(yuǎn)、柳春蘭、朱瑞珍。

標(biāo)準(zhǔn)截圖

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