文中介紹了一種基于概率方法的半導(dǎo)體發(fā)光器件町靠性預(yù)計(jì)模型.在初始光發(fā)射性能給定而退化特性通過試驗(yàn)確定的前提下,使用該模型呵得到器件的可靠度函數(shù)關(guān)系,且理論預(yù)汁結(jié)果與試驗(yàn)結(jié)果一致性良好.(對(duì)初始光發(fā)射性能和退化特性建模的研究仍在進(jìn)行中,在本文中不涉及.而本模型最終將包括上述兩部分的建模,以得到完整的可靠性預(yù)汁解析結(jié)果.)對(duì)于半導(dǎo)體發(fā)光器件,本研究作為基于失效物理的一套完整的可靠性預(yù)計(jì)方法研究巾的重要一步,提供了一種町行的方法,并且證明在器件性能基本參數(shù)基礎(chǔ)上確定可靠度函數(shù)關(guān)系的途徑具有可行性.