CBIR在半導(dǎo)體測(cè)量中的應(yīng)用

期刊名字：中國(guó)高新技術(shù)企業(yè)
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論文作者：張健
作者單位：西北工業(yè)大學(xué)明德學(xué)院
更新時(shí)間：2023-03-23
下載次數(shù)：次

論文簡(jiǎn)介

文章簡(jiǎn)要討論了CBIR在半導(dǎo)體測(cè)量中的應(yīng)用.從半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)量的特點(diǎn)入手,闡述了利用CBJR進(jìn)行半導(dǎo)體某些參數(shù)測(cè)量的可能性和實(shí)際意義,在此基礎(chǔ)上提出了下一步工作進(jìn)展的方向,以實(shí)現(xiàn)用數(shù)字化指導(dǎo)生產(chǎn)實(shí)踐的目標(biāo).

論文截圖

上一條：碳化硅半導(dǎo)體

下一條：稀磁半導(dǎo)體/半導(dǎo)體量子線中的散粒噪聲

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