等離子體X射線吸收譜研究

期刊名字：中國(guó)科學(xué)A輯
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論文作者：彭永倫，韓小英，李家明，丁耀南，楊家敏，鄭志堅(jiān)
作者單位：清華大學(xué)物理系及原子分子納米科學(xué)研究中心,中國(guó)科學(xué)院核物理與化學(xué)研究所高溫高密等離子體物理實(shí)驗(yàn)室
更新時(shí)間：2023-03-21
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論文簡(jiǎn)介

計(jì)算高溫高密等離子體吸收譜的理論方法;該方法基于相對(duì)論原子理論,可以計(jì)算任何單元素以及多元素等離子體的譜分辨X射線吸收譜;應(yīng)用了量子數(shù)虧損理論,可以減少計(jì)算量. 利用該方法計(jì)算有機(jī)材料C10H16O5等離子體的吸收譜,計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)符合良好. 通過(guò)理論計(jì)算與實(shí)驗(yàn)相比較,可對(duì)慣性約束核聚變(ICF)等離子體進(jìn)行診斷分析;不但可判斷等離子體的溫度和密度,還可提供等離子體內(nèi)各電離度能級(jí)布居等重要物理參數(shù). 同時(shí)經(jīng)過(guò)有關(guān)"標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)"驗(yàn)證的理論計(jì)算方法將是提供ICF"精密"輻射參數(shù)的重要基礎(chǔ).

論文截圖

上一條：等電子譜線法診斷等離子體電子溫度實(shí)驗(yàn)研究

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