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JB/T 8467-1996 鍛鋼件超聲波探傷方法 JB/T 8467-1996 鍛鋼件超聲波探傷方法

JB/T 8467-1996 鍛鋼件超聲波探傷方法

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  • 更新時(shí)間:2020-04-22
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JB/T8467-96前木標(biāo)準(zhǔn)非等效采用 ASTM A38884《大型鍛鋼件超聲波探傷方法標(biāo)準(zhǔn)》本標(biāo)準(zhǔn)力求以規(guī)定的檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)要求、檢測(cè)方法,保證探傷結(jié)果的一致性,大型鍛鋼件的質(zhì)量等級(jí)分類、由于質(zhì)量要求差異太大,在本標(biāo)準(zhǔn)屮不宜做統(tǒng)一的規(guī)定。對(duì)鍛件的質(zhì)量驗(yàn)收,由供需雙方根據(jù)技術(shù)要求協(xié)商解決。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部德陽(yáng)大型鑄鍛件研究所提出并歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:太原重型機(jī)械集團(tuán)公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:米書林。中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JBT846796鍛鋼件超聲波探傷方法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鍛鋼件縱波或橫波接觸式脈沖反射法超聲波探傷方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于厚度或直徑等于或大于100mm碳素鋼及低合金鋼鍛鋼件。奧氏體不銹鋼鍛件的超聲波探傷也可參照?qǐng)?zhí)行。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。iB3門丁12604.1…90無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)超聲檢測(cè)JB4126-84超聲波檢驗(yàn)用鋼質(zhì)試塊的制造和控制JB473-94壓力容器無(wú)損檢測(cè)ZBY230-84A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件ZBY231-84超聲波探傷用探頭性能測(cè)試方法3定義木標(biāo)準(zhǔn)所用術(shù)語(yǔ)除了根鋸GB/12601,1外,還采用下列定義。3.1當(dāng)量直徑在條件相同的情況下,缺陷回波的幅度與超聲波束相垂直的某一直徑平底孔的回波幅度相等.稱該H徑為缺陷當(dāng)量直徑,簡(jiǎn)稱為當(dāng)量直徑。3.2連續(xù)缺陷回波在某個(gè)測(cè)距上缺隋當(dāng)量直徑不小于2mm,回波的波動(dòng)幅度范圍,在探頭持續(xù)移動(dòng)距離等于或大于3mm的間距內(nèi)不大于2dB的缺陷回波。3.3密集缺陷邊長(zhǎng)小于或等于50mm正方體內(nèi),有五個(gè)或五個(gè)以上的缺陷回波。注:譯自 ASTM A388A388M-84中8.1.3.23.4波底降低量B4,/B(dB)無(wú)缺陷完好區(qū)第一次底波幅度Bs值與有缺陷區(qū)的第一次底波幅度B;值之比的dB差值。注:根據(jù)jB4730--94中3.2。3.5單個(gè)缺陷回波問(wèn)距大于50mm,當(dāng)量直徑不小于2mm的缺陷回波3.6分散缺陷叫波在邊長(zhǎng)為50mm正方體內(nèi),缺陷回波的數(shù)量少于五個(gè),缺陷的當(dāng)量直徑不小于2mm的缺陷回波。3.7游動(dòng)缺陷波在鍛件的表面上移動(dòng)探頭,缺陷回波的前沿移動(dòng)距離相當(dāng)于鍛件厚度25mm或25mm以上的缺中華人民共和國(guó)機(jī)械工業(yè)部1996-09-03批準(zhǔn)1997-07-01實(shí)施323JBT8467-96陷回波。4技術(shù)要求4.1一般要求41.1從事大型緞鋼件超聲波探傷人員,應(yīng)具有一定的冶爍、鍛造、熱處埋的基礎(chǔ)知識(shí)和鍛件探傷經(jīng)驗(yàn)、并經(jīng)過(guò)認(rèn)可的有關(guān)鄰門考核合格,且取得相應(yīng)等級(jí)資格證的探傷人員方可從事鍛件的超聲波探傷。4.1-2鍛件榤傷表面,不得有影響探傷靈敏度的附著物,如油漆、氧化皮、污物等。4.1-3鍛件探傷面的表面粗糙度Ra值,應(yīng)不大于6.3m414鍛件探傷應(yīng)在桕互垂直的兩個(gè)探傷面上進(jìn)行,應(yīng)盡可能地對(duì)鍛件的整體做全面掃查。餅形、長(zhǎng)方形鍛件探傷面應(yīng)選在相互垂直的兩個(gè)畝上。軸類鍛件應(yīng)在外圓表面做徑向探測(cè),必要時(shí)在軸的端鹵做軸向探測(cè)。4.1.5鍛件探傷的鋼質(zhì)對(duì)比試塊應(yīng)符合B4126的規(guī)定。4.1·5.1縱波直探頭平面對(duì)比試塊,采用CS-1和CS-2試塊,也可以自行加工,其形狀和尺寸應(yīng)符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。檢測(cè)曲面時(shí),采用的曲面對(duì)比試塊見圖1。注:R為T件曲面半徑的0.9~1,5圖1曲面對(duì)比試塊4.1.52橫波斜探頭的對(duì)比試塊,應(yīng)采用化學(xué)成分熱處理?xiàng)l件、表面粗糙度、曲率等都應(yīng)與檢測(cè)鍛件相同或相似的鍛件制作。4.1.5.3對(duì)空心鍛件用的對(duì)比試塊的內(nèi)壁切成與軸平行的矩形或60V形槽,其長(zhǎng)度為25mm。推薦槽深為鍛件厚度3%的試塊。槽深最大不超過(guò)6mm的試塊。4.2探傷設(shè)備和探頭4-2.1探傷設(shè)備應(yīng)符合ZBY230的規(guī)定。4.21.1探傷儀的工作頻率至少為1~5MHz,配備的衰減器精度在紅意相鄰12dB、誤差在1dl總調(diào)節(jié)量應(yīng)大于60dB。4.2.1.2探傷儀的垂直線性至少在屏高的75%范圍內(nèi),其誤差應(yīng)小于5%。水平線性誤差應(yīng)不大于2厶2.1.3縱波直探頭探傷發(fā)現(xiàn)深度為200mm,悶平底孔時(shí),靈敏度余量應(yīng)不小于40dB,遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于30dB4.2.2探頭應(yīng)符合ZBY231的規(guī)定。42.2.7縱波直探頭的鼎片直徑為12~28mm,斜探頭品片最大有效而積為25mm×2mm,各種探頭都應(yīng)在標(biāo)稱頻率下使用、頻率誤差不超過(guò)標(biāo)稱值的土10%JB/T8467-9642.2.2探頭的其余參數(shù)都應(yīng)符合ZBY231的規(guī)定。4.3耦合劑推薦采用機(jī)油、甘油、有機(jī)漿糊。在不影響探傷靈敏度的條件下,也可以釆川其他耦合劑。5探傷要求5.1原則上鍛件應(yīng)在最終熱處理以后進(jìn)行超聲波探傷。如鍛件要在熱處理以前進(jìn)行鉆孔、切槽、車錐度等加工工序使探傷受到影響時(shí),鍛件也可在此加工工序前進(jìn)行超聲波探傷,熱處理以后凡可探測(cè)部位,必須進(jìn)行100%的復(fù)探5.2探頭掃查速度應(yīng)不大于150mm/s5.3探頭移動(dòng)每次至少重疊覆蓋晶片寬度的15%。5.4對(duì)鍛件進(jìn)行復(fù)探或重新評(píng)定時(shí),應(yīng)選用可比較的探傷條件。6探傷方法6.1縱波法探傷6.1.1探傷頻率通常為1~5MHz,一般鍛件探傷推薦2~2.5MHz探傷頻率6.1.2探傷靈敏度的調(diào)節(jié),原則上推薦底面回波反射法調(diào)節(jié)。由于鍛件的幾何形狀尺寸的限制,也可以用對(duì)比試塊法調(diào)節(jié)6.1.3用底面回波反射法調(diào)節(jié)將探頭置于鍛件人射面與反射面相平行的探傷面上,且無(wú)缺陷和邊界反射波調(diào)節(jié)探傷儀靈敏度旋鈕,將底面回波調(diào)到屏高的40%-80%,然后按劉下的計(jì)算公式調(diào)節(jié)鍛件的增益值a)實(shí)心鍛件的增益值A(chǔ)dB 20L2式中:△dB-需要提高的增益值,dB;T—-探測(cè)鍛件的厚度或直徑,mm;φ—一要求探傷靈敏度平底孔直徑,mm;入——-波長(zhǎng),mm。b)有中心孔鍛件的增益值△dB=20l2AT10lg2)式中:1)-一探測(cè)鍛件部位的外徑,mmd—-探測(cè)鍛件部位的內(nèi)徑,mm。6.1.4對(duì)比試塊法調(diào)節(jié)靈敏度6.1.4.1使用的對(duì)比試塊的材質(zhì)、表面粗糙度、熱處理?xiàng)l件應(yīng)與檢測(cè)鍛件相同或相似6.1.4.2用¢S-1或CS-2對(duì)比試塊或具有等效作用的其他試塊上進(jìn)行調(diào)節(jié)。6.1.4.3按6.1.4.2選取的CS試塊平底孔的反射波調(diào)到屏高的40%~80%。6.1.5計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí),鍛件的材質(zhì)衰減超過(guò)4dB/m時(shí),應(yīng)進(jìn)行修正。衰減系數(shù)的測(cè)定按式(3)計(jì)算(B1-B2)…6dB……………………(3)21式中:B次底面回波的dB值B2二次底面回液的dB值;T—鍛件的厚度,mm;a-衰減系數(shù),dB/mm。6.1.6鍛件探傷時(shí),要注意底面冋波明顯降低的部位,并查明底畫回波下降的原因.對(duì)底匾回波明顯下降的任何區(qū)域都要復(fù)探。JB/T8467—966.2橫波法探傷62·1橫波探傷主要用于環(huán)形或空心鍛件,其軸向長(zhǎng)度應(yīng)大于50mm,外徑與內(nèi)徑之比應(yīng)小于2:16.22如鍛件外徑與內(nèi)徑之比或鍛件的兒何形狀不影響所要求的探傷靈敏度時(shí).則采用折射角45的斜探頭探傷。為了用斜探頭探測(cè)外徑與內(nèi)徑之比達(dá)2:1的空心鍛件,可在探頭上加一個(gè)曲面楔塊或接觸塊形成所需的波形和角度,以達(dá)到要求的靈敏度。6.2.3橫波探傷靈敏度的校正從外圓探測(cè)內(nèi)壁上平行于鍛件軸向的矩形或60V形槽,得到一個(gè)滿屏高60%的叫波。也可以釆用單獨(dú)的對(duì)比試塊進(jìn)行校正,對(duì)比試塊制作與選擇應(yīng)符合41.5的要求。若鍛件成批生產(chǎn),則取其中一件制成校正用的對(duì)比件,在其內(nèi)壁切一個(gè)槽,槽深為工件最大厚度的3%,但最深不得超過(guò)6mm,槽長(zhǎng)為25mm。對(duì)比件的厚度應(yīng)與被檢丁件厚度相同。在同一儀器條件下探傷,從外圓上的一個(gè)類似槽上得到個(gè)反射回波,通過(guò)內(nèi)、外槽一次反射波峰畫一條對(duì)比振幅線。如可能,最好在檢驗(yàn)件上或其余料上直接切槽。實(shí)際探傷中,可能從外圓面上探不出外圓上的槽,如可行(有的鍛件內(nèi)徑小,無(wú)法探傷)應(yīng)從內(nèi)、外表面進(jìn)行探傷,在外表面探測(cè)內(nèi)表面的槽,在內(nèi)表面探測(cè)外表而的槽。必要與可能時(shí),也可以采用曲面楔塊或接觸塊進(jìn)行探傷。6.3重新調(diào)節(jié)探傷靈敏度6,3,1鍛件探傷過(guò)程中,如探頭、耦合劑、儀器的設(shè)定值有任何改變都要重新調(diào)節(jié)探傷靈敏度6-32鍛件在探傷過(guò)程中應(yīng)至少校驗(yàn)一次探傷靈敏度。在探傷結(jié)束后應(yīng)校驗(yàn)探傷靈敏度。當(dāng)探傷靈敏度變化2dB以上時(shí),應(yīng)重新調(diào)節(jié)探傷靈敏度。在此之前所探的鍛件都要重新復(fù)探。7測(cè)量與記錄7.1縱波缺陷定量采用當(dāng)量法,橫波采用百分比法。7.2缺陷當(dāng)量直徑大于或等于探傷靈敏度的單個(gè)或分散缺陷回波時(shí),都要記錄。7.3按技術(shù)條件要求記錄密集缺陷回波,并標(biāo)記缺陷的位置和分布范圍。7.4記錄游動(dòng)缺陷回波的當(dāng)量直徑、位置和分布范圍。7.5記錄底面回波嚴(yán)重降低或消失的部位和分布范圍。了.6橫波探傷,記錄不小于對(duì)比槽回波幅度60%的缺陷回波的位置和分布范圍。8探傷報(bào)告探傷報(bào)告應(yīng)包括如下的內(nèi)容:8.1鍛件的名稱、材質(zhì)、尺寸簡(jiǎn)圖、探傷位置、探傷面的粗糙度。8.2委托日期,委托單位,委托編號(hào)8.3探傷條件:探傷儀的型號(hào)、探頭的頻率、晶片的尺寸、斜探頭的K值和β值。8.4探傷靈敏度,耦合劑的名稱,對(duì)比試塊的型號(hào)。8-5探傷結(jié)果,評(píng)定等級(jí)。8.6探傷人員的姓名、資格證書、資格等級(jí),復(fù)審人員的姓名、資格證號(hào)、等級(jí)及日期。326

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