HALT(highly accelerated life testing)測試,主要應(yīng)用于產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)階段,對于暴露產(chǎn)品的潛在缺陷效果明顯,是設(shè)計(jì)工程師提高產(chǎn)品可靠性的重要實(shí)驗(yàn)手段.目前該實(shí)驗(yàn)方法已被國內(nèi)外電子業(yè)界充分認(rèn)可并逐漸推廣使用.本文介紹了HALT測試對提高產(chǎn)品可靠性的重要性,闡釋了與HALT實(shí)驗(yàn)相關(guān)的一些術(shù)語和定義,并就如何進(jìn)行HALT實(shí)驗(yàn)進(jìn)行了較詳細(xì)的論述,內(nèi)容涉及實(shí)驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作、實(shí)驗(yàn)參數(shù)的規(guī)格指標(biāo)、實(shí)驗(yàn)設(shè)備的能力要求以及實(shí)驗(yàn)步驟和實(shí)驗(yàn)細(xì)節(jié)等.文章還對HALT實(shí)驗(yàn)后關(guān)于測試報(bào)告和后續(xù)整改及驗(yàn)證的要求進(jìn)行了概括.