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粉粒在等離子體中純化的理論與工藝參數(shù) 粉粒在等離子體中純化的理論與工藝參數(shù)

粉粒在等離子體中純化的理論與工藝參數(shù)

  • 期刊名字:華中科技大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)
  • 文件大?。?/li>
  • 論文作者:陶甫廷,王敬義,許淑慧,馮信華
  • 作者單位:廣西工學(xué)院,華中科技大學(xué)
  • 更新時(shí)間:2023-03-21
  • 下載次數(shù):
論文簡介

針對反應(yīng)室的情況,建立了硅粉的運(yùn)動學(xué)模型和粉粒收集判據(jù).應(yīng)用該模型和判據(jù),選擇進(jìn)氣流速為5~20cm3/min(標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下),抽氣比例為0.1.由于等離子區(qū)內(nèi)只存在表面反應(yīng),鈍化作用會使純化效應(yīng)消失.在鞘層內(nèi)存在大量高能離子,除表面反應(yīng)外,離子還能對粉粒表面進(jìn)行刻蝕,因此鈍化效應(yīng)將消失.按此新的純化概念,鞘層應(yīng)盡量增厚.基于鞘盡模型考慮,在適中的壓力、電流密度和直流自偏壓下,選定鞘層厚度為1.5cm.刻蝕提純的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,硅的純度可由99.00%.提高到99.97%.

論文截圖
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