針對密封蓋未及時開啟造成發(fā)射裝置的損壞問題進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)分析.實(shí)驗(yàn)測量了對發(fā)射管壁靜壓和密封蓋受到的燃?xì)馍淞鳑_擊壓力,利用子波分析方法求取了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的基于子波系數(shù)的頻帶能量譜,并對含有射流噪聲的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行了子波濾波,得到了各點(diǎn)壓力低頻成分的變化情況,同時得到了密封蓋所受沖擊沖量與激波振蕩幅值的關(guān)系. 研究表明密封蓋不及時開啟會在彈管間隙中形成高幅值的起始沖擊波和燃?xì)饣亓骷げㄕ袷? 這種破壞性的流動結(jié)構(gòu)會導(dǎo)致發(fā)射裝置的損壞.