用于低溫半導(dǎo)體器件篩選的新型溫度循環(huán)設(shè)備

期刊名字：紅外與毫米波學(xué)報
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論文作者：吳禮剛，劉大福，朱三根，吳家榮，洪思敏，龔海梅
作者單位：中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所
更新時間：2023-03-25
下載次數(shù)：次

論文簡介

在某些情況下斯特林制冷機采用間歇式工作方式,以延長衛(wèi)星在太空中的服務(wù)年限,因此由斯特林機致冷的低溫半導(dǎo)體器件如HgCdTe中長波紅外探測器會經(jīng)受成千上萬次從-173℃以下到常溫的溫度循環(huán),這個過程可能會造成器件的失效.為了研究器件的失效機理和可靠性,幫助篩選器件,本文介紹了一種自制新型的溫度循環(huán)實驗設(shè)備,型號TCE-a.經(jīng)過數(shù)千次溫度循環(huán),設(shè)備滿足器件篩選實驗要求.

論文截圖

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