半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)研制

期刊名字：工業(yè)控制計(jì)算機(jī)
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論文作者：?jiǎn)虗?ài)民，王艷春，戴敏，史金飛
作者單位：蚌埠學(xué)院,東南大學(xué)
更新時(shí)間：2023-03-24
下載次數(shù)：次

論文簡(jiǎn)介

半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)是提升半導(dǎo)體分立器件測(cè)試和封裝企業(yè)自動(dòng)化水平的一種重要的檢測(cè)設(shè)備.介紹了一種基于ARM微處理器S3C44BOX的半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng).在分析了測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試原理和半導(dǎo)體分立器件待測(cè)參數(shù)后,概括介紹了測(cè)試系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì).

論文截圖

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