半導(dǎo)體器件壽命計算

期刊名字：杭州電子科技大學(xué)學(xué)報
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論文作者：蔡玲芳
作者單位：中國電子科技集團(tuán)公司第三十六研究所
更新時間：2023-03-24
下載次數(shù)：次

論文簡介

該文簡要介紹通過半導(dǎo)體器件的環(huán)境試驗計算器件壽命.首先介紹了4種加速模型,以及各模型的應(yīng)用；其次,根據(jù)給定的置信度水平以及試驗結(jié)果查×2分布表；而后,根據(jù)試驗時間和樣本量求得失效率；最后,根據(jù)電子元器件服從指數(shù)分布的假設(shè)條件,求得器件的壽命.

論文截圖

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